作為為精密電子量測儀器、自動(dòng)化測試系統(tǒng)、制造資訊系統(tǒng)與全方位Turnkey測試及自動(dòng)化解決方案供應(yīng)商的致茂電子，一直致力于對先進(jìn)核心技術(shù)的追求，隨著市場對激光二極管需求的不斷加劇，致茂于去年推出激光二極管測試解決方案，一推出就受到市場的關(guān)注，近日，隨著2013年中國國際光博會(huì)CIOE的即將召開，致茂推出了整合性的Turn-Key激光二極管測試解決方案。
致茂繼2012中國光博會(huì)推出震撼市場的激光二極管測試解決方案并受到得到世界上Tier1 的廠商認(rèn)可，將再次于2013年中國國際光博會(huì)CIOE上為需求廠商提供更多具價(jià)格競爭力優(yōu)勢的激光二極管測試產(chǎn)品，并展出整合性的Turn-Key測試解決方案。
激光二極管在通訊、醫(yī)療、軍事等方面極具應(yīng)用性，與人類社會(huì)生活密不可分。有鑒于近年來因半導(dǎo)體雷射于云端， 感測等產(chǎn)業(yè)上的應(yīng)用逐年提升，致茂運(yùn)用自有精密量測儀器設(shè)備搭配自動(dòng)化測試的經(jīng)驗(yàn)與技術(shù)，提供雷射制造業(yè)界完整的Turn-Key測試解決方案。
致茂推出整合性的Turn-Key激光二極管測試解決方案
在晶圓(Wafer)檢測部分，致茂結(jié)合Prober-Station與TEC致冷芯片溫控器，可快速制造-40℃到150℃的環(huán)境，并確保在無冷凝的環(huán)境下測試?yán)咨涔怆娞匦噪S溫度變化的情形。于雷射芯片(Chip)檢測段，致茂將使用HOC共用載具(Hand-Over Carrier)的方式可于人員不直接接觸芯片下進(jìn)行自動(dòng)化光電特性量測L-I-V曲線與燒機(jī)測試的交互測試。而特性檢測Characterization上致茂提供的是Turn-Key解決方案, 整合性的測試可大幅降低人工需求進(jìn)而達(dá)到客戶測試需求；今年致茂也針對TOCAN封裝段的激光器提出新的燒機(jī)檢測系統(tǒng)(Burn-In)與自動(dòng)化光學(xué)檢測(AOI)，可于最終出貨前進(jìn)一步檢測出有瑕疵的激光器。
致茂每年投入大量研發(fā)資源確保其領(lǐng)先關(guān)鍵技術(shù)及高度整合能力于光學(xué)、機(jī)械、電子、溫控及軟體，以維持公司的競爭優(yōu)勢及成長，這也使得其激光二極管測試解決方案能夠得到市場的青睞與認(rèn)可，相信整合性的Turn-Key激光二極管測試解決方案在2013年中國國際光博會(huì)CIOE上的展出，將會(huì)再度成為媒體和參展人員的關(guān)注焦點(diǎn)之一。
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